介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀使用注意事項
更新時間:2019-07-04 點擊次數(shù):1825
介質(zhì)損耗指的是絕緣材料在電場作用下,由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng),在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失,簡稱介損。介質(zhì)損耗因數(shù)指的是衡量介質(zhì)損耗程度的參數(shù)。測量介質(zhì)損耗因數(shù)是一項靈敏度很高的試驗項目,它可以發(fā)現(xiàn)電力設(shè)備絕緣整體受潮、劣化變質(zhì)以及小體積被試設(shè)備貫通和未貫通的局部缺陷。
介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。
介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀使用注意事項:
1.本儀器應(yīng)水平安放。
2.如果需要較地測量,請接通電源后,預(yù)熱30分鐘。
3.調(diào)節(jié)主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時,當(dāng)接近諧振點時請緩調(diào)。
4.被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差。
5.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊。
6.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。